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AMOLED光电材料中金属元素残留分析检测方法验证

作者:千赢国际  来源:千赢国际  时间:2019-09-28 03:11  点击:


  随着手机、电脑、平板等移动通信设备的普及,人们对通信设备的需求从拥有数量增多到追求体验提升。超高清,大尺寸,全视角的显示屏幕越来越受到人们的追捧。有源矩阵有机发光二极管(AMOLED)面板具有得天独厚的优势。无论是在效率,成本还是发光质量上,比起 LCD液晶显示器,AMOLED具有先天性优势。OLED器件本省具有主动发光,高对比度,高视角度,成本低,功耗低,可工作温度范围大的优点。目前国内对AMOLED显示技术的研究已经取得了很大的进展,涌现出一大批生产AMOLED面板及上游提供光电原材料企业。

  OLED材料之有机材料的特性深深地影响元件之光电特现。在阳极材料的选择上,材料本身必需是具高功函(High work function)与可透光性,所以具有4.5eV-5.3eV的高功函数、性质稳定且透光的ITO透明导电膜,便被广泛应用于阳极。在阴极部分,为了增加元件的发光效率,电子与电洞的注入通常需要低功函数(Low work function)的Ag、Al、Ca、In、Li与Mg等金属,或低功函数的复合金属来制作阴极(例如:Mg-Ag镁银)。在生产OLED光电材料的过程中,会引入一些金属元素。

  OLED光电材料对其中10多种金属元素残留要求特别高,金属残留一般高于400个ppb高会影响发光性能,伴随着行业发展,法律法规的健全,越来越多的生产企业开始重视这些金属元素方法开发检验检测并验证,使其能够生产出合格的产品。

  目前普遍采用ICP-MS检测OLED光电材料中的金属残留, 但是难点在于OLED材料不易被消解,所以现在部分单位会采取有机进样系统直接进样,。优点在于会减少前处理带来的实验误差。

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